Ingeniería ISSN Impreso: 1409-2441 ISSN electrónico: 2215-2652

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DESVANECIMIENTO POR MULTITRAYECTORIAS DE ENLACES DE MICROONDAS

Resumen

Los devanecimientos debido a trayectorias múltiples en enlaces largos de microondas analógicas y digitales en la mayoría de los casos son al condición que afecta mas significaivamente el desempeño del enlace.

En este artículo se discutirá los fundamentos estadísticos del desvanecimiento plano tipo Rayleigh, que ha sido usado en el diseño de radioenlaces en nuestro ambiente.

https://doi.org/10.15517/ri.v4i1.7654
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